Número Browse:0 Autor:editor do site Publicar Time: 2026-03-28 Origem:alimentado
Em 26 de março de 2026, a 21ª Cerimônia de Premiação de Inovação EM foi realizada em Xangai.
Apresentando recursos avançados, incluindo "captura completa de defeitos em nível de 0,8 μm, imagem em nanoescala e inspeção inteligente de IA de gama completa",
O AX9600 da Unicomp Technology ganhou o Prêmio de Inovação EM.
Equipamento de inspeção inteligente de semicondutores
de tubo aberto X-RAY AX9600 da Unicomp
Equipado com a fonte de raios X de microfoco de tipo aberto de 160kV desenvolvida pela Unicomp, ele atende prontamente aos requisitos de inspeção de chips de computação de IA, como HBM e GPU, bem como aplicações de empacotamento avançadas.
• Superampliação de 2.000X • Imagens de alta definição em tempo real
•Inspeção omnidirecional 360° • Medição automática de defeitos alimentada por IA
Como um prêmio de grande prestígio na indústria de fabricação de eletrônicos,
o EM Innovation Award seleciona fornecedores que deram contribuições notáveis para o desenvolvimento e inovação do setor,
baseado em sete dimensões, incluindo capacidade de inovação, melhoria da capacidade de produção e avanço de processos.
Este reconhecimento sublinha que o desempenho robusto do AX9600 ganhou grande aclamação tanto da indústria como do mercado,
ao mesmo tempo que demonstra a total confiança e forte preferência dos clientes da indústria pela Tecnologia Unicomp.
