Inspeção Nano Inteligente, Insights para o Futuro! Unicomp Technology AX9600 homenageada com prêmio EM Innovation

Em 26 de março de 2026, a 21ª Cerimônia de Premiação de Inovação EM foi realizada em Xangai.

Apresentando recursos avançados, incluindo "captura completa de defeitos em nível de 0,8 μm, imagem em nanoescala e inspeção inteligente de IA de gama completa",

O AX9600 da Unicomp Technology ganhou o Prêmio de Inovação EM.

Equipamento de inspeção inteligente de semicondutores
de tubo aberto X-RAY AX9600 da Unicomp

Equipado com a fonte de raios X de microfoco de tipo aberto de 160kV desenvolvida pela Unicomp, ele atende prontamente aos requisitos de inspeção de chips de computação de IA, como HBM e GPU, bem como aplicações de empacotamento avançadas.

• Superampliação de 2.000X • Imagens de alta definição em tempo real

•Inspeção omnidirecional 360° • Medição automática de defeitos alimentada por IA

Como um prêmio de grande prestígio na indústria de fabricação de eletrônicos,

o EM Innovation Award seleciona fornecedores que deram contribuições notáveis ​​para o desenvolvimento e inovação do setor,

baseado em sete dimensões, incluindo capacidade de inovação, melhoria da capacidade de produção e avanço de processos.

Este reconhecimento sublinha que o desempenho robusto do AX9600 ganhou grande aclamação tanto da indústria como do mercado,

ao mesmo tempo que demonstra a total confiança e forte preferência dos clientes da indústria pela Tecnologia Unicomp.